rx solutions丨工業(yè)ct在儲(chǔ)能領(lǐng)域的應(yīng)用-無錫瑞埃德檢測(cè)科技公司

rx solutions丨工業(yè)ct在儲(chǔ)能領(lǐng)域的應(yīng)用

發(fā)布者：無錫瑞埃德檢測(cè)科技有限公司點(diǎn)擊：1652 發(fā)布時(shí)間：2024-12-09

x-ray工業(yè)ct為提高電池性能提供了技術(shù)解決方案

儲(chǔ)能解決方案的開發(fā)，特別是對(duì)電池的開發(fā)多年來一直是工業(yè)中最活躍的領(lǐng)域之一。隨著電力流動(dòng)性、互聯(lián)對(duì)象和通信手段的指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)，應(yīng)用的領(lǐng)域越來越多。目前，許多項(xiàng)目正在進(jìn)行中，重點(diǎn)關(guān)注電池儲(chǔ)能系統(tǒng)的存儲(chǔ)容量、安全、生態(tài)成本，還有預(yù)期壽命等方面。

在電池儲(chǔ)能系統(tǒng)中，鋰離子電池是一個(gè)重要的研究方向。它一般由許多單體的電池組成，每一個(gè)單體都能產(chǎn)生幾伏的電壓。每個(gè)電池單元都是有兩個(gè)電極，兩個(gè)電極之間交換電池中的鋰離子。因此，對(duì)電極上的化學(xué)成分進(jìn)行微觀尺度的分析是提高電池性能的關(guān)鍵步驟。

x-ray ct使電池可視化

傳統(tǒng)的材料分析方法通常需要破壞樣品，并且不允許在充、放電循環(huán)中監(jiān)測(cè)電池的變化。此外，傳統(tǒng)技術(shù)只能提供二維信息，無法在零件的三維尺度進(jìn)行分析。工業(yè)ct即x射線斷層掃描成像技術(shù)為這一挑戰(zhàn)提供了技術(shù)解決方案，可視化監(jiān)測(cè)電池在充放電循環(huán)過程中電極失效的過程：

-“原位”測(cè)量：通過掃描來實(shí)時(shí)獲取電池在充放電循環(huán)中的圖像，定位故障點(diǎn)

-獲取電極在亞微米尺度上的三維渲染的圖形，監(jiān)控性能變化

rx solutions ct系統(tǒng)提供高質(zhì)量結(jié)果

rx solutions工業(yè)ct具有高達(dá)0.4μm的分辨率，電池的任何故障或缺陷以及內(nèi)部電極排列都清晰可見，并且該檢測(cè)可以直接在采集和重建軟件x-act中執(zhí)行，客戶無需專門購置第三方軟件。

為了更好地了解電池的結(jié)構(gòu)和具體性能，可以通過原位實(shí)驗(yàn)進(jìn)行掃描。原位實(shí)驗(yàn)指的是在應(yīng)力作用下直接對(duì)樣品進(jìn)行斷層掃描分析，直接觀察樣品的受力變化。工業(yè)ct還可以用來對(duì)電池內(nèi)部裝配進(jìn)行監(jiān)控，從而避免最常見和最令人擔(dān)憂的熱失控現(xiàn)象，熱失控可能是由于裝配問題、受沖擊或劇烈升溫造成的，然后電池會(huì)猛烈失火燃燒。使用ct系統(tǒng)可以避免這種風(fēng)險(xiǎn)，能夠保證電池在良好的狀態(tài)下保持正常工作，不會(huì)對(duì)用戶造成風(fēng)險(xiǎn)。

由于先進(jìn)的設(shè)計(jì)功能，工業(yè)ct甚至可以用高分辨率掃描和分析較大尺寸的電池，掃描電池中各個(gè)層間的數(shù)據(jù)，然后檢查整體的裝配情況。此外，4d斷層掃描（增加了時(shí)間維度）允許跟蹤電池隨時(shí)間的演變，從而測(cè)量其老化情況。同時(shí)也可以通過多次掃描同一電池，分析不同的參數(shù)得知其老化的程度，如不銹鋼外殼的厚度、鋰片的布局、是否存在空隙或夾雜物……通過使用ct系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了從掃描到后處理所有步驟的自動(dòng)化，從此使得電池的100%檢測(cè)成為可能。

rx solutions提供廣泛且功能強(qiáng)大的ct系統(tǒng)，使客戶能夠在微觀層面上觀測(cè)鋰離子電池，從而能夠更好地開發(fā)產(chǎn)品及把控質(zhì)量。

目前，無錫瑞埃德檢測(cè)有幸成為工業(yè)ct領(lǐng)跑企業(yè)――法國rx solutions 中國區(qū)市場(chǎng)拓展伙伴，將努力為大家提供最好的服務(wù)和產(chǎn)品，助力中國產(chǎn)業(yè)提升。

本公司主營(yíng)項(xiàng)目：測(cè)量?jī)x器,軸類測(cè)量?jī)x,光學(xué)軸類測(cè)量?jī)x,vicivision,工業(yè)ct,無損檢測(cè),3d掃描,光學(xué)三坐標(biāo),x射線三維成像

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