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RX Solutions丨工業(yè)CT對復(fù)雜組件進行掃描檢查 |
發(fā)布者:admin 點擊:1147 發(fā)布時間:2021-11-9 |
與大多數(shù)無損檢測(NDT)技術(shù)相比,X射線計算機斷層掃描不僅可以通過掃描得到樣品的幾何形狀,還可以檢查復(fù)雜組件的內(nèi)部缺陷。當一個零件有多個子零件時,表示它有很多隱藏的重要特征需要被識別,且具有較大的識別難度。而工業(yè)CT可用于檢測生產(chǎn)過程中任何一個步驟的組裝質(zhì)量,其顯著優(yōu)點是在不拆卸物體造成破壞的情況下,使得內(nèi)部和外部細節(jié)可視化。
工業(yè)CT可對復(fù)雜組件進行全面檢查
因為在許多行業(yè),如電子行業(yè),在確定復(fù)雜組件故障的原因時,首先需要檢查與主要零件相關(guān)的所有子零件。如果使用傳統(tǒng)的破壞性技術(shù)或手動流程,不僅非常耗時、容易出錯,并且十分依賴操作員的技術(shù)水平。為了減少甚至避免這些不可控的因素,工業(yè)CT能夠在降低成本的同時節(jié)約您的時間, 使用非破壞性射線技術(shù),能夠?qū)Υ祟悘?fù)雜組件進行可靠的檢查分析,使組件的失效分析和測量變得更容易。這樣的話,客戶能夠顯著的減短產(chǎn)品開發(fā)周期,提高生產(chǎn)效率。
案例1:EasyTom S對電氣開關(guān)進行掃描
使用工業(yè)CT檢查復(fù)雜組件的優(yōu)勢
由于高質(zhì)量高性能零件主要存在于如電子、醫(yī)療等行業(yè),零件價值普遍較高,因此它的存在顯得尤為重要,并且優(yōu)勢較為明顯:
無需使用破壞性技術(shù),否則會影響關(guān)鍵信息的采集
對內(nèi)部故障、測量、缺陷進行可靠檢查
通過縮短檢查時間提高效率
提升產(chǎn)品生命周期,促進開發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制
案例2:EasyTom S對多材料內(nèi)飾進行掃描
對于通常由多種材料制成的關(guān)鍵部件和組件,檢查其可靠性面臨諸多挑戰(zhàn)。工業(yè)CT能夠幫助開發(fā)及生產(chǎn)部門更好地理解零件的裝配情況,從而提高產(chǎn)品質(zhì)量。
目前,無錫瑞埃德檢測有幸成為工業(yè)CT領(lǐng)跑企業(yè)——法國 RX Solutions 中國區(qū)市場拓展伙伴,將努力為大家提供最好的服務(wù)和產(chǎn)品,助力中國產(chǎn)業(yè)提升。
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